PD ES 59008-4-1-2001 半导体压模的数据要求.特殊要求和推荐规程.试验和质量

作者:标准资料网时间:2024-05-15 16:55:06 浏览:9113 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Datarequirementsforsemiconductordie.Specificrequirementsandrecommendations.Testandquality
【原文标准名称】:半导体压模的数据要求.特殊要求和推荐规程.试验和质量
【标准号】:PDES59008-4-1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2001-03-15
【实施或试行日期】:2001-03-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:信息交流;质量控制;质量;数据;认可试验;代码表示;合格;集成电路;半导体;电子设备及元件;数据表示;质量保证
【英文主题词】:codedrepresentation;quality;approvaltesting;semiconductors;informationexchange;datarepresentation;electronicequipmentandcomponents;data;conformity;integratedcircuits;qualityassurance;qualitycontrol
【摘要】:Specifiesrequirementsforthedataneededtodescribethetestandqualityparametersofsemiconductordieandgivesrecommendationsforgeneralindustrygoodpractice.TobereadinconjunctionwithPDES59008-1:2000,PDES59008-3:1999
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语

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